產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是基于時(shí)間行程原理的測量儀表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。
詳情介紹：
產(chǎn)品概述
1測量原理
◇輸入
反射的脈沖信號(hào)沿纜繩傳導(dǎo)到儀表電子線路部分，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由軟件完成，距離物料表面的距離 D 與脈沖的時(shí)間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速，因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
◇輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點(diǎn)），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于 4 － 20mA 輸出。
1.2 測量范圍
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區(qū)
K---- 探頭到罐壁的*小距離
頂部盲區(qū)是指物料高面與測量參考點(diǎn)之間的距離。 底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法測量的一段距離。 頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意： 只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí)， 才能罐內(nèi)物位的測量。
儀表介紹
應(yīng) 用：液體、固體顆粒
測量范圍：30 米
過程鏈接： 螺紋、法蘭
過程溫度：-40 ～ 250℃
過程壓力：-0.1 ～ 2MPa
精 度： ±3mm
頻率范圍：100MHZ ～ 1.8GHZ
防爆 / 防護(hù)等級(jí)：Exd ⅡC T4 Gb /IP67
信號(hào)輸出：4~20mA/HART( 兩線/四線 )/RS485/Modbus
1測量原理
導(dǎo)波雷達(dá)是基于時(shí)間行程原理的測量儀表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。
◇輸入
反射的脈沖信號(hào)沿纜繩傳導(dǎo)到儀表電子線路部分，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由軟件完成，距離物料表面的距離 D 與脈沖的時(shí)間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速，因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
◇輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點(diǎn)），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于 4 － 20mA 輸出。
1.2 測量范圍
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區(qū)
K---- 探頭到罐壁的*小距離
頂部盲區(qū)是指物料高面與測量參考點(diǎn)之間的距離。 底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法測量的一段距離。 頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意： 只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí)， 才能罐內(nèi)物位的測量。
儀表介紹
應(yīng) 用：液體、固體顆粒
測量范圍：30 米
過程鏈接： 螺紋、法蘭
過程溫度：-40 ～ 250℃
過程壓力：-0.1 ～ 2MPa
精 度： ±3mm
頻率范圍：100MHZ ～ 1.8GHZ
防爆 / 防護(hù)等級(jí)：Exd ⅡC T4 Gb /IP67
信號(hào)輸出：4~20mA/HART( 兩線/四線 )/RS485/Modbus